ABR-10A


ABR10_40


  1. 概要
     ABR-10Aは,複屈折とその方位を高精度に測定することが可能です.光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました.操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき,測定結果は作業者の熟練度に依存しません. キャリブレーション操作を行うことで,より再現性の高い測定が可能になるばかりでなく,様々な応用測定が実現できます. 試料ステージを操作することで,2次元複屈折(分布)の測定が可能です.また,傾斜ステージを搭載することで,斜入射複屈折の測定が可能です.ス テージは,コンピューターにより自動制御されます. 測定結果は,2次元表示・断面表示・3次元表示でビジュアルに表現されます.
  2. 特徴
    • 高感度・高速測定  光ヘテロダイン計測法の採用  1 sec. / point
    • 高精度・高再現性  試料を静止させた状態で測定 分解能 0.01 nm
    • 簡単操作         メニューとマウスによる簡単な操作,明るい場所で作業できます.
    • 大型化可能      サンプルの大型化にも対応可能
    • ライン組込可能    サンプルステージ変更によりライン組込へのアップグレード可能

  3. アプリケーション
    • 液晶ディスプレイ : 位相差フィルム,ラビング膜など
    • 強誘電(反強誘電)液晶の配向特性評価
    • 光磁気ディスク用基板
    • DVD, CD等のピックアップ光学部品 : 偏光ビームスプリッター等
    • レンズ・プリズム等 光学ガラスの歪測定
    • 光学材料の高精度光弾性定数測定
    • 高分子材料の研究 (薄膜,レンズ等の光学素子など)

  4. 性能
    測定項目リターデーション進相軸方位角被測定試料
    Reδφ
    測定範囲*0 - 260 nm0 - 150 deg.± 90 deg.
    分解能0.01 nm0.006 deg.0.1 deg.
    繰り返し精度**± 0.03 nm± 0.018 deg.-Re = 0 nm
    ± 0.1 nm± 0.06 deg.± 0.5 deg.1/4波長サンプル
    測定時間約 1 sec./point (リターデーションと方位角の同時測定)
    *). オプションにて,0 - 180 deg.まで対応可. 分解能 (150 - 180 deg.):± 0.1 deg.
    **). 上欄は,空気層(Re = 0 nm)のサンプルによる測定結果(3σ)であり,下欄が,1/4波長板(Re≒158.3 nm水晶製)のサンプルによる測定結果(3σ)です.

  5. 構成バリエーション
    こちらをご覧ください.