ABR-22


abr22


  1. 概要
     ABR-22は,複屈折とその方位だけでなく,旋光角を同時かつ独立に測定することが可能です.光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました.操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき,測定結果は作業者の熟練度に依存しません.キャリブレーション操作を行うことで,より再現性の高い測定が可能になります. 試料ステージを操作することで,2次元複屈折(分布)の測定が可能です.また,傾斜ステージを搭載することで,斜入射複屈折の測定が可能です.ステージは,コンピューターにより自動制御されます.測定結果は、2次元表示・断面表示・3次元表示でビジュアルに表現されます.
  2. 特徴
    • 高感度・高速測定  光ヘテロダイン計測法の採用  30 sec. / point
    • 高精度・高再現性  試料を静止させた状態で測定 分解能 0.4 nm
    • 簡単操作         メニューとマウスによる簡単な操作,明るい場所で作業できます.
    • 大型化可能      サンプルの大型化にも対応可能
    • ライン組込可能    サンプルステージ変更によりライン組込へのアップグレード可能

  3. アプリケーション
    • 液晶ディスプレイ : 液晶セル(TN,STN)の複屈折特性
    • 液晶位相変調素子の評価
    • ファラデー素子等の電気光学素子の評価 :(ファラデー効果,カー効果,ポッケルス効果等)
    • 光学結晶の特性評価・研究
    • 高分子材料の評価・研究

  4. 性能
    測定項目リターデーション進相軸方位角旋光角
    Reδφψ
    測定範囲0 - 316 nm0 - 180 deg.± 90 deg.± 90 deg.
    分解能0.4 nm0.2 deg.0.2 deg.0.2 deg.
    精度± 2 %± 2 %± 2 %± 2 %
    測定時間約 30 sec./point (リターデーションと方位角の同時測定)

  5. 構成バリエーション
    こちらをご覧ください.