- 概要
ABR-22は,複屈折とその方位だけでなく,旋光角を同時かつ独立に測定することが可能です.光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました.操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき,測定結果は作業者の熟練度に依存しません.キャリブレーション操作を行うことで,より再現性の高い測定が可能になります. 試料ステージを操作することで,2次元複屈折(分布)の測定が可能です.また,傾斜ステージを搭載することで,斜入射複屈折の測定が可能です.ステージは,コンピューターにより自動制御されます.測定結果は、2次元表示でビジュアルに表現されます. - 特徴
- 高感度・高速測定 光ヘテロダイン計測法の採用 30 sec. / point
- 高精度・高再現性 試料を静止させた状態で測定 分解能 0.4 nm
- 簡単操作 メニューとマウスによる簡単な操作,明るい場所で作業できます.
- 大型化可能 サンプルの大型化にも対応可能
- ライン組込可能 サンプルステージ変更によりライン組込へのアップグレード可能
- アプリケーション
- 液晶ディスプレイ : 液晶セル(TN,STN)の複屈折特性
- 液晶位相変調素子の評価
- ファラデー素子等の電気光学素子の評価 :(ファラデー効果,カー効果,ポッケルス効果等)
- 光学結晶の特性評価・研究
- 高分子材料の評価・研究
- 性能
測定項目 リターデーション 進相軸方位角 旋光角 Re δ φ ψ 測定範囲 0 - 316 nm 0 - 180 deg. ± 90 deg. ± 90 deg. 分解能 0.4 nm 0.2 deg. 0.2 deg. 0.2 deg. 精度 ± 2 % ± 2 % ± 2 % ± 2 % 測定時間 約 30 sec./point (リターデーションと方位角の同時測定) - 構成バリエーション
こちらをご覧ください.
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