- 概要
ABR-22は，複屈折とその方位だけでなく，旋光角を同時かつ独立に測定することが可能です．光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました．操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき，測定結果は作業者の熟練度に依存しません．キャリブレーション操作を行うことで，より再現性の高い測定が可能になります． 試料ステージを操作することで，2次元複屈折（分布）の測定が可能です．また，傾斜ステージを搭載することで，斜入射複屈折の測定が可能です．ステージは，コンピューターにより自動制御されます．測定結果は、2次元表示でビジュアルに表現されます.
- 特徴
- 高感度・高速測定 光ヘテロダイン計測法の採用 30 sec. / point
- 高精度・高再現性 試料を静止させた状態で測定 分解能 0.4 nm
- 大型化可能 サンプルの大型化にも対応可能
- アプリケーション
- 液晶ディスプレイ ： 液晶セル(TN,STN)の複屈折特性
- 液晶位相変調素子の評価
- ファラデー素子等の電気光学素子の評価 ：（ファラデー効果，カー効果，ポッケルス効果等）
- 光学結晶の特性評価・研究
- 高分子材料の評価・研究
- 性能
測定項目 リターデーション 進相軸方位角 旋光角 Re δ φ ψ 測定範囲 0 - 316 nm 0 - 180 deg. ± 90 deg. ± 90 deg. 分解能 0.4 nm 0.2 deg. 0.2 deg. 0.2 deg. 精度 ± 2 % ± 2 % ± 2 % ± 2 % 測定時間 約 30 sec./point (リターデーションと方位角の同時測定)
- 構成バリエーション
こちらをご覧ください．