Photonix2016 出展 — 終了しました —


Photonix 2016 -光計測・分析機器展-に出展致しました。
弊社ブースへお立ち寄り下さいました皆様、誠にありがとうございました。

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    • 光学膜厚測定システム(実機デモ)
    反射率スペクトル測定光学系と解析ソフトウェアの連携により、薄膜の膜厚と光学定数を簡単に測定できます。

     

      • 膜厚・光学定数決定に要求される高速反射率スペクトル測定機能をA4サイズに凝縮
      • スペクトル解析ソフトウェアSCOUTを標準搭載
      • 単層膜の膜厚・屈折率測定、多層膜を始めとする様々な膜解析アプリケーションに対応
      • 反射率スペクトル測定からフィッティング解析までのシークエンスを簡単操作
      • 数十 nm程度の膜厚から測定可能
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