Photonix2015 出展 — 終了しました —


Photonix 2015 -光計測・分析機器展-に出展致しました。
弊社ブースへお立ち寄り下さいました皆様、誠にありがとうございました。

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  • 光弾性定数測定装置 (実機デモ)
高精度な光弾性定数の測定が可能です。更に、温調機や回転・傾斜ステージを取り付けることも可能です。

 

主な仕様
変形モード : 引張り・圧縮測定
サンプルサイズ : 引張試験用 : 10 x 80 mm
         圧縮試験用 : 直径 20 mm, 厚さ 15 mm (厚さ0.3 – 15 mmまで対応可能)
引張圧縮速度   :  0.01 – 100 mm/min.
加重範囲     :  0.2 – 50 N
ロードセル    :  定格 50 N (200 N,1000 Nに交換可能)
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  • 光学膜厚測定システム(実機デモ)
反射率スペクトル測定光学系と解析ソフトウェアの連携により、薄膜の膜厚と光学定数を簡単に測定できます。

 

    • 膜厚・光学定数決定に要求される高速反射率スペクトル測定機能をA4サイズに凝縮
    • スペクトル解析ソフトウェアSCOUTを標準搭載
    • 単層膜の膜厚・屈折率測定、多層膜を始めとする様々な膜解析アプリケーションに対応
    • 反射率スペクトル測定からフィッティング解析までのシークエンスを簡単操作
    • 数十 nm程度の膜厚から測定可能
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  • LED光源・ドライバ(実機デモ)
1 W, 3 Wの超高輝度LED向け電源&ドライバです。電流調整はマニュアルタイプとPC制御タイプがあります。

 

    • 紫外光LEDにも対応
    • PC制御タイプは、直流点灯だけでなく、パルス発振モードも対応
    • 光強度、パルス周波数、Duty比は専用ソフトウェアで制御
    • オプションで、CCDカメラ等との同期発光モードが搭載

      LSM

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