- 概要
ABR-100は，複屈折とその方位を高精度に測定することが可能です．光ヘテロダイン干渉法の採用により高感度・高精度測定を達成いたしました．操作は全てコンピューターによるメニュー方式なので手軽に操作でき，測定結果は作業者の熟練度に依存しません． キャリブレーション操作を行うことで，より再現性の高い測定が可能になるばかりでなく，様々な応用測定が実現できます． 試料ステージを操作することで，2次元複屈折（分布）の測定が可能です．また，傾斜ステージを搭載することで，斜入射複屈折の測定が可能です．ス テージは，コンピューターにより自動制御されます． 測定結果は,2次元表示ビジュアルに表現されます. - 特徴
- 高感度・高速測定 光ヘテロダイン計測法の採用 0.1 sec. / point
- 高精度・高再現性 試料を静止させた状態で測定 分解能 0.01 nm
- 大型化可能 サンプルの大型化にも対応可能
- ライン組込可能 サンプルステージ変更によりライン組込へのアップグレード可能
- アプリケーション
- 液晶ディスプレイ ： 位相差フィルム，ラビング膜など
- 強誘電（反強誘電）液晶の配向特性評価
- 光磁気ディスク用基板
- DVD, CD等のピックアップ光学部品 ： 偏光ビームスプリッター等
- レンズ・プリズム等 光学ガラスの歪測定
- 光学材料の高精度光弾性定数測定
- 高分子材料の研究 （薄膜，レンズ等の光学素子など）
- 性能
測定項目 リターデーション 進相軸方位角 被測定試料 Re δ φ 測定範囲 0 - 260 nm 0 - 150 deg. ± 90 deg. 分解能 0.01 nm 0.006 deg. 0.1 deg. 繰り返し精度** ± 0.01 nm 0.006 deg. - Re = 0 nm ± 0.03 nm ± 0.02 deg. ± 0.2 deg. 1/4波長サンプル 測定時間 0.1 sec./point (リターデーションと方位角の同時測定) **). 上欄は,空気層（Re = 0 nm）のサンプルによる測定結果（σ）であり,下欄が,1/4波長板（Re≒158.3 nm水晶製）のサンプルによる測定結果（σ）です. - 構成バリエーション
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