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Photonix 2015 -光計測・分析機器展-に出展致しました。
弊社ブースへお立ち寄り下さいました皆様、誠にありがとうございました。
- 会期 : 2015年4月8日(水) ~ 10日(金) 10:00 – 18:00 (最終日のみ17:00まで)
- 場所 : 東京ビックサイト
- 小間番号 : 光計測・分析機器展 35-37
- 出展内容 : 光弾性定数測定装置
光学膜厚測定システム
LED光源・ドライバ - 開催概要 : http://www.photonix-expo.jp/ja/Home/
高精度な光弾性定数の測定が可能です。更に、温調機や回転・傾斜ステージを取り付けることも可能です。
主な仕様
変形モード : 引張り・圧縮測定
サンプルサイズ : 引張試験用 ： 10 x 80 mm
圧縮試験用 ： 直径 20 mm, 厚さ 15 mm (厚さ0.3 – 15 mmまで対応可能）
引張圧縮速度 : 0.01 – 100 mm/min.
加重範囲 : 0.2 – 50 N
ロードセル : 定格 50 N (200 N,1000 Nに交換可能)
変形モード : 引張り・圧縮測定
サンプルサイズ : 引張試験用 ： 10 x 80 mm
圧縮試験用 ： 直径 20 mm, 厚さ 15 mm (厚さ0.3 – 15 mmまで対応可能）
引張圧縮速度 : 0.01 – 100 mm/min.
加重範囲 : 0.2 – 50 N
ロードセル : 定格 50 N (200 N,1000 Nに交換可能)
反射率スペクトル測定光学系と解析ソフトウェアの連携により、薄膜の膜厚と光学定数を簡単に測定できます。
- 膜厚・光学定数決定に要求される高速反射率スペクトル測定機能をA4サイズに凝縮
- スペクトル解析ソフトウェアSCOUTを標準搭載
- 単層膜の膜厚・屈折率測定、多層膜を始めとする様々な膜解析アプリケーションに対応
- 反射率スペクトル測定からフィッティング解析までのシークエンスを簡単操作
- 数十 nm程度の膜厚から測定可能
1 W, 3 Wの超高輝度LED向け電源＆ドライバです。電流調整はマニュアルタイプとPC制御タイプがあります。
- 紫外光LEDにも対応
- PC制御タイプは、直流点灯だけでなく、パルス発振モードも対応
- 光強度、パルス周波数、Duty比は専用ソフトウェアで制御
- オプションで、CCDカメラ等との同期発光モードが搭載
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We had exhibited in Photonix-expo 2015.
All of you who dropped in at our booth, thank you very much.
- Dates : Apr. 8 to 10, 2015, (Last day, by 17:00)
- Venue : Tokyo Big Site
- Booth : Optical Measuring Expo 35-37
- Exhibition contents : Please look at the Japanese-language page.
- Outline : http://www.photonix-expo.jp/en/Home/
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